X-IŞINLARI KIRINIM CİHAZI

 
          X-Işını Kırınım yöntemi (XRD), her bir kristal fazın kendine özgü atomik dizilimlerine bağlı olarak X-ışınlarını karakteristik bir düzen içerisinde kırması esasına dayanır. Her bir kristal faz için bu kırınım profilleri bir nevi parmak izi gibi o kristali tanımlar. X-Işını Kırınım analiz metodu, analiz sırasında numuneyi tahrip etmez ve çok az miktardaki numunelerin dahi analizlerinin yapılmasını sağlar. X-Işını Kırınım cihazıyla kayaçların, kristal malzemelerin, ince filmlerin ve polimerlerin nitel ve nicel incelemeleri yapılabilir.Rigaku SmartLab X-ışını difraktometresi; toz, katı ve ince film şeklindeki örneklerde fazlar, fazların miktarı, kristal boyutu, latis parametreleri, yapıdaki değişimler, kristal yönlenmesi ve atom pozisyonları hakkında bilgi verir. Bu cihaz ile ayrıca 2300 C’ye kadar atmosfer, vakum ve inert gaz ortamında kristal yapıdaki faz değişimlerini görmek mümkündür.
 

RIGAKU SMARTLAB

Piyasadan gelen geri bildirim ve en son teknolojiyi kullanan TruSpec Micro cihazı, katı veya sıvı mikro numunelerde karbon, hidrojen, azot, kükürt ve oksijen tayininde optimum performans sunar. Bu sistem, hızlı analiz zamanı ve daha az bakım gerektirmekle birlikte güvenilir ve tutarlı performans sunmaktan geri kalmaz.
 
 
 
 
 

X-IŞINLARI KIRINIM ÖLÇÜM SİSTEMİ İÇİN BAŞVURU FORMU