TARAMALI ELEKTRON MİKROSKOBU

 
          SEM ile seramik, metal, polimer, ince film, jeolojik malzemeler ve biyolojik numunelerin topografi, morfoloji, şekil, boyut, bileşim ve kristallografik yapıları hakkında bilgi elde edilir. Cihazda bulunan ikincil elektron görüntü (SEI) ve geri yansıyan elektron görüntü (BSE) dedektörleri ile yüksek çözünürlükte görüntü elde edilmektedir. Cihazla birlikte EDS sistemi ile belirlenmiş bir nokta, çizgi ve alan taraması ve seçilmiş alan X-ışını haritalanması yapılmakta ve bu bölgelerde kalitatif ve kantitatif analizler yapılabilmektedir. Yalıtkan numunelerin analizi için numune hazırlamada kullanılmak üzere yüksek vakum sputter platin kaplama cihazı ve karbon kaplama ataçmanı mevcuttur. Ayrıca biyolojik örnekler için kritik nokta kurutucusu mevcuttur. Bu sayede, dokularda fizyolojik veya patolojik olarak, ya da deneysel yöntemlerle ortaya çıkan morfolojik değişikliklerin analizi yapılmaktadır.
 

JEOL 6510

Görüntüleme ve analiz arasında kesintisiz geçiş. Standart tarifler, ayar prosedürlerini basitleştirdiği gibi, geniş bir kullanıcı yelpazesinin ihtiyaçlarını karşılamak için genel amaçlı, termal tip SEM'dir. Standart 5 eksenli motor kademesi, ilgili alanı bulmayı kolaylaştırır.
 
 
 
 
 

ELEKTRON TARAMALI MİKROSKOP İÇİN BAŞVURU FORMU